【廠家】FEI

【型號】TECNAI G2 20 LaB6

點分辨率:≤0.24nm

線分辨率: ≤0.14nm

加速電壓范圍: 20kV- 200kV

樣品臺: X:≥2mm; Y:≥2mm; Z: ≥0.75mm

XY方向移動最小步長: < 4nm

最大傾斜角: ≥+40°

照相系電制冷能譜儀:元素分析范圍從B04- Pu94

【送樣須知】

1. 粉末5mg，液體0.5ml；樣品拍攝數量，TEM10張左右，HRTEM包含TEM共15張左右，能譜和衍射原則上只做一個區域，多個區域另外收費；不含有毒有害物質；制樣默認為無水乙醇分散超聲5到10分鐘滴銅網自然干燥制樣，其他方式請備注。

2. 能譜只有點掃才能得到元素半定量數據，原則上不單獨測能譜和衍射，單晶衍射需聯系客服確定，mapping的元素含量表需要測試要求中重點提出，mapping會附贈一張做mapping區域的STEM暗場像，“STEM(HAADF)”項目會做5張左右暗場像，最小標尺20nm。

3. 含Fe、Co、Ni、Mn、Ru元素即定義為磁性樣品，請下“磁性粉末/液體透射電鏡（TEM）”項目，TEM理想狀態是測試納米級樣品，如果樣品為微米級，不保證樣品能附著在銅網上，若樣品容易變質需要指明，液體請指明溶劑，碳點、量子點和分子篩等，如果是樣品原因造成的測試效果不符合預期，均需收取費用，因隱瞞樣品信息導致儀器損壞，需要您承擔全部賠償責任。

4. 請仔細填寫測試要求，上傳的參考圖片只作形貌參考，測試要求均以文字說明為準，面掃mapping請指明區域或標尺，其他項目也最好指明區域或者標尺，晶格條紋由于只能拍暴露的薄區的晶面，所以一些晶面一次測試可能是拍不出的，實驗室老師會盡量找不同的晶格拍，而且由于測試時，無法準確獲知拍攝的晶格是那種晶面的，所以以后由于晶面問題再次上機測試會收取一定測試費用。

5. 不需要包埋切片樣品，需要染色或者用80-120KV電鏡拍攝，請下“低電壓透射電鏡（TEM）”項目。